浩瀚宇宙不仅存在着大量的未知和神秘，还有许许多多的高能粒子和辐射射线。这些高能粒子和辐射射线威胁着卫星和飞船上的电子设备，会给设备中的电子元器件造成瞬时错误或永久损伤，严重时会危及整个航天器，甚至导致任务失败。因此，元器件用于卫星和飞船的前提，就是必须具备抗辐射能力并通过相应的考核评估。
为此，五院物资部于2014年成立了元器件应用验证技术研究室。同年，梅博博士毕业，随即加入了研究室的元器件抗辐射评估班组。梅博从读研开始，研究方向就是半导体器件的抗辐射效应及其加固方法，入职后，虽说是老本行轻车熟路，但他还是一点一滴从头学起。从效应机理研究到工程评价保障，他及时转变工作思路和方式，认真研读各项工程技术标准，并与国内外同类标准进行比对，笔记本上密密麻麻记满了数据和公式，从不忽视任何一个技术细节，不小看每一个质量问题，也不会放过每一次“灵光乍现”。
做好抗辐射评估，把好元器件上天第一关，这是梅博工作的主战场。在他的主导带领下，物资部抗辐射团队对9000余项元器件逐一开展辐射敏感性分析和数据整理，最终按器件类型梳理出12类近400款辐射敏感器件。
同时，为更好地为型号设计师选型服务，基于已有试验数据，他创造性地提出建立3级风险体系的概念，建立了分级的型号用元器件在轨辐射效应风险概率模型，成为设计师抗辐射选用的主要依据。
随着元器件国产化的推进，某国产抗辐射加固功率器件率先实现突破。但是，国产器件质量究竟如何，替代之后究竟好不好用，在用户眼里还存在很大的疑问。
器件的应用验证该测哪些指标？怎么测？在有限机时条件下器件单粒子安全工作区该如何测试？判据怎么定......自梅博接手该器件的应用验证开始，一系列问题一件件摆在他的面前。
他不厌其烦地翻遍了相关国外标准与产品手册，不辞辛苦地跑遍了每一个试验场地，乐此不疲地请教咨询业内相关专家。功夫不负有心人，梅博终于在一次次“分析论证-试验验证-推倒重来-改进分析”螺旋上升的过程中，完成功率器件应用验证技术指标设计，为型号在轨应用提供可靠依据，推动了国产化研制。
“装机在即，某复杂器件需要单粒子评估数据支撑……”电话那头的型号设计师言语中透露出这个需求的关键、重要和紧急。
复杂集成电路封装形式特殊，常用的方式难以满足单粒子效应评估需求。随着复杂高性能器件的航天应用，这一难题日益凸显。梅博未雨绸缪，早几年便联合相关单位在脉冲激光单粒子试验技术方面开展了预先研究。此次型号应用迫切，且时机成熟，他建议基于已有的理论研究基础开展试验，解燃眉之急。经过专家评议，该建议得到了各方认可，之后试验顺利实施，试验数据有力支撑了型号装机，这也是国内首次进行脉冲激光单粒子试验技术工程化应用，解决了多个重点型号用复杂集成电路无法进行重离子单粒子评估的技术难题。
惟精惟一，是梅博的座右铭，他也在科研和工作中时刻实践着。惟精是功夫，是一心一意的行动；惟一是坚持，是数十年如一日的刻苦钻研。在建设航天强国的征程中，做好每一件微小的事情，就是贡献一份绵薄之力——把每一个元器件都做好，我们的航天器才会有更高的性能和更可靠的质量。
